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LTC1412
TI I G CHARACTERISTICS
W U
(Note 5)
SYMBOL
PARAMETER
CONDITIONS
MIN
TYP
MAX
UNITS
fSAMPLE(MAX)
Maximum Sampling Frequency
q
3
MHz
tTHROUGHPUT
Throughput Time (Acquisition + Conversion)
q
333
ns
tCONV
Conversion Time
q
240
283
ns
tACQ
Acquisition Time
q
20
50
ns
t1
CS
↓ to CONVST↓ Setup Time
(Notes 9, 10)
q
5ns
t2
CONVST Low Time
(Note 10)
q
20
ns
t3
CONVST to BUSY Delay
CL = 25pF
5
ns
q
20
ns
t4
Data Ready Before BUSY
↑
–20
0
20
ns
q
–25
25
ns
t5
Delay Between Conversions
(Note 10)
q
50
ns
t6
Data Access Time After CS
↓
CL = 25pF
10
35
ns
q
45
ns
t7
Bus Relinquish Time
830
ns
LTC1412C
q
35
ns
LTC1412I
q
40
ns
t8
CONVST High Time
q
20
ns
t9
Aperture Delay of Sample-and-Hold
– 1
ns
The q denotes specifications which apply over the full operating
temperature range; all other limits and typicals TA = 25°C.
Note 1: Absolute Maximum Ratings are those values beyond which the life
of a device may be impaired.
Note 2: All voltage values are with respect to ground with DGND and
AGND wired together (unless otherwise noted).
Note 3: When these pin voltages are taken below VSS or above VDD, they
will be clamped by internal diodes. This product can handle input currents
greater than 100mA below VSS or above VDD without latchup.
Note 4: When these pin voltages are taken below VSS they will be clamped
by internal diodes. This product can handle input currents greater than
100mA below VSS without latchup. These pins are not clamped to VDD.
Note 5: VDD = 5V, fSAMPLE = 3MHz and tr = tf = 5ns unless otherwise
specified.
Note 6: Linearity, offset and full-scale specifications apply for a single-
ended AIN input with AIN– grounded.
Note 7: Integral nonlinearity is defined as the deviation of a code from a
straight line passing through the actual endpoints of the transfer curve.
The deviation is measured from the center of the quantization band.
Note 8: Bipolar offset is the offset voltage measured from – 0.5LSB
when the output code flickers between 0000 0000 0000 and
1111 1111 1111.
Note 9: Guaranteed by design, not subject to test.
Note 10: Recommended operating conditions.
TI I G DIAGRA
U
WW
DATA (N – 1)
DB11 TO DB0
CONVST
BUSY
CS
1412 TD
t2
tCONV
t3
t1
t5
t4
t6
t7
DATA N
DB11 TO DB0
DATA (N + 1)
DB11 TO DB0
DATA
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